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上海電力承試四級(jí)資質(zhì)設(shè)備選型

斷路器綜合特性測試儀結(jié)構(gòu)原理

    斷路器綜合特性測試儀的總體結(jié)構(gòu)主要包括微處理器、交/直流輸入轉(zhuǎn)換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換、識(shí)別電路、精密時(shí)基電路以及人機(jī)友好界面顯示等部分，在硬件平臺(tái)的基礎(chǔ)上，配備*的軟件編輯，囊括了計(jì)算機(jī)技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)、檢測技術(shù)等，能夠高效的完成對(duì)高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀電量輸出參量、開關(guān)動(dòng)作時(shí)間參量等功能的校驗(yàn)工作。

    由總體結(jié)構(gòu)圖可知，該主要通過兩個(gè)處理通道來完成校驗(yàn)任務(wù)。一個(gè)是將電壓信號(hào)輸出送到衰減電路中，然后再送入A/D轉(zhuǎn)換電路中，通過光耦再送到MCU中進(jìn)行運(yùn)算處理，后通過LCD顯示結(jié)果，從而完成對(duì)高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀電量參量的校驗(yàn)。另外一個(gè)開關(guān)動(dòng)作信號(hào)通過輸入電路調(diào)整為本電路相匹配的信號(hào)，然后輸送到識(shí)別電路，轉(zhuǎn)換成MCU可以識(shí)別出的數(shù)字信號(hào)，經(jīng)過光耦后由MCU進(jìn)行運(yùn)算處理，對(duì)處理后的結(jié)果執(zhí)行相應(yīng)動(dòng)作，然后對(duì)外輸出控制信號(hào)，以完成對(duì)開關(guān)動(dòng)作時(shí)間參量的校驗(yàn)。人機(jī)友好界面主要包括液晶顯示器和操作按鍵。

 斷路器綜合特性測試儀采用的是ARM控制配合CPLD芯片產(chǎn)生高精度、寬范圍的定時(shí)信號(hào)，并能模擬高壓斷路器的動(dòng)作，可用于校驗(yàn)和檢測高壓斷路器動(dòng)態(tài)特性測試儀的時(shí)間基準(zhǔn)，用于校驗(yàn)高壓開關(guān)測試儀時(shí)間測量功能。

 久益斷路器綜合特性測試儀技術(shù)指標(biāo)：

1. 時(shí)間測量：12路

             固有分閘（合閘）時(shí)間

             分閘（合閘）相內(nèi)不同期

             分閘（合閘）相間不同期

             合閘（分閘）彈跳時(shí)間（彈跳次數(shù)）

2. 測試范圍：0.01ms～10000ms

3. 準(zhǔn) 確 度：1ms～100ms內(nèi)準(zhǔn)確度0.1%±2個(gè)字，

             大于100ms準(zhǔn)確度0.5%±2個(gè)字

4. 速度測量：剛分（剛合）速度

             時(shí)間段（行程段或角度段）平均速度

5. 測速范圍：1mm傳感器 0.01～25.00m/s，

0.1mm傳感器 0.001～2.50m/s，

360°角度傳感器0.01～25.00m/s

6. 行程測量：動(dòng)觸頭行程（行程）

         接觸行程（開距）

          過沖行程或反程（超程）

7. 傳感器測量范圍：直線位移傳感器50mm，分辨率:0.1mm，行程0.1～50mm

   直線位移傳感器300mm，分辨率:0.1mm，行程10～300mm（選配）

   直線位移傳感器500mm，分辨率:1mm，行程10～500mm（選配）

   360線傳感器：360°,分辨率:0.25°,行程1mm～1000mm   

8. 電流測量：顯示電流為分（合）閘線圈的大電流值

9. 顯 示 屏：320×240液晶屏，對(duì)比度可調(diào)

10. 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：可存儲(chǔ)100組測量數(shù)據(jù)

11. 打 印 機(jī)：高速熱敏打印機(jī)

12. 儀器電源：AC/DC 220V ± 10%；50Hz ± 2%

13. 直流電源

1) 輸出電壓：25～265V連續(xù)可調(diào)

2) 輸出電流：≤ 20A(短時(shí))

14. 主機(jī)體積：360×250×140mm

15. 使用環(huán)境：-10℃~+50℃

16. 相對(duì)濕度：≤90%

承裝（修、試）電力設(shè)施許可證所需施工機(jī)具設(shè)備條件承試類   四級(jí)